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ICP--150等離子體刻蝕機(jī)
時間:2016-12-29 15:23
設(shè)備名稱:等離子體刻蝕機(jī)設(shè)備型號:ICP--150
使用單位:成都電子科技大學(xué)

設(shè)備指示:
1. 基片尺寸:6 英寸圓片及以下;4 片 4x4 cm 方片
2. 工藝腔體:進(jìn)口鋁材 6061,一體化加工,內(nèi)壁硬氧處理
3. 傳輸腔室:機(jī)械手臂不破真空進(jìn)行樣品傳輸
4. 射頻電源:等離子體源 1000W,13.56MHz,自動匹配;偏置源 1000W,13.56MHz,
自動匹配
5. 控壓閥門:程控自動
6. 溫度控制:載片臺溫度可控(液控),氦氣背冷
7. 真空測量:薄膜電容工藝規(guī);全量程規(guī)
8. 工藝氣體:5 路工藝氣體
9. 控制系統(tǒng):電氣系統(tǒng)和軟件控制全自主開發(fā),Windows 環(huán)境,觸摸屏操作
10. 機(jī)臺特點:一體型設(shè)備,參考占地面積 1400mm(長)×1000mm(寬);不銹鋼光面
潔凈外板
11. 安全機(jī)制:機(jī)臺異常處理機(jī)制與急停機(jī)制(EMO)
12. 工藝應(yīng)用:硅基材料及聚合物(如 Teflon、Parylene)等常規(guī)材料刻蝕
13. 工藝性能:
? ● SiO2 刻蝕工藝:
*刻蝕速率:≥ 100 nm/min
*片內(nèi)刻蝕均勻性:≤ ± 3%(6 英寸)@去除無效邊緣
*片間刻蝕重復(fù)性:≤ ± 3%(6 英寸)@去除無效邊緣
*側(cè)壁角度:≥85°
*深寬比:>2:1(寬 2μm)
? ● Si3N4 刻蝕工藝:
*刻蝕速率:≥ 150 nm/min
*片內(nèi)刻蝕均勻性:≤ ± 3%(6 英寸)@去除無效邊緣
*片間刻蝕重復(fù)性:≤ ± 3%(6 英寸)@去除無效邊緣
*側(cè)壁角度:≥85°
*深寬比:>2:1(寬 2μm)